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| 涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100 |
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已停产
德国Eleektrophysik公司MiniTest1100/2100/3100/4100系列涂镀层测厚仪已升级为MiniTest2500/4500。
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能；
- 所有型号均可配所有探头
- 高精确度和重复性
- 储存读数文件 ，可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机
- 一点和两点校准
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| 型号 |
1100 |
2100 |
3100 |
4100 |
| 存储量 |
| 应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数) |
1 |
1 |
10 |
99 |
| 每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计，可设宽容度极限值) |
- |
1 |
10 |
99 |
| 可用各自的日期和时间标识特性的组数 |
- |
1 |
500 |
500 |
| 数据总量 |
1 |
10000 |
10000 |
10000 |
| 统计功能 |
| 读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar |
- |
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√ |
| 读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
- |
- |
√ |
√ |
| 组统计值六种x,s,n,max,min,kvar |
- |
- |
√ |
√ |
| 组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
- |
- |
√ |
√ |
| 存储显示每一个应用行下的所有组内数据 |
- |
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- |
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| 分组打印以上显示和存储的数据和统计值 |
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| 显示并打印测量值、打印的日期和时间 |
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| 其他 |
| 透过涂层进行校准(CTC) |
- |
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| 在粗糙表面上作平均零校准 |
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| 利用计算机进行基础校准 |
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| 补偿一个常数(Offset) |
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- |
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| 外设的读值传输存储功能 |
- |
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| 保护并锁定校准设置 |
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| 更换电池是存储数值 |
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| 设置极限值 |
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- |
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| 公英制转换 |
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| 连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别最大最小值 |
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| 连续测量模式中测量稳定后显示读数 |
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- |
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| 浮点和定点方式数据传送 |
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| 组内单值延迟显示 |
- |
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| 连续测量模式中显示最小值 |
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| 探头 |
量程 |
低端
分辨率 |
误差 |
最小曲率
半径(凸/凹) |
最小测量
区域直径 |
最小基
体厚度 |
| F05 |
0-500μm |
0.1μm |
±(1%+0.7μm) |
0.75/5mm |
3mm |
0.1mm |
| F3 |
0-3000μm |
0.2μm |
±(1%+1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
| F10 |
0-10mm |
5μm |
±(1%+10μm) |
5/16mm |
20mm |
1mm |
| F20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%+20μm) |
10/30mm |
40mm |
2mm |
| F50 |
0-50mm |
10μm |
±(3%+50μm) |
50/200mm |
300mm |
2mm |
| N02 |
0-200μm |
0.1μm |
±(1%+0.5μm) |
1/5mm |
2mm |
50μm |
| N.08Cr |
0-80μm |
0.1μm |
±(1%+1μm) |
2.5mm |
2mm |
100μm |
| N10 |
0-10mm |
10μm |
±(1%+25μm) |
25/100mm |
50mm |
50μm |
| N20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%+50μm) |
25/100mm |
70mm |
50μm |
| N100 |
0-100mm |
100μm |
±(1%+0.3mm) |
100mm/平面 |
200mm |
50μm |
| FN1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%+1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F：0.5mm/N：50μm |
| FN1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%+1μm) |
平面/6mm |
5mm |
F：0.5mm/N：50μm |
| F2HT |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%+1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
| 注： |
所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。
N08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。 |
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FN1.6
0～1600μm,φ5mm
两用测头，可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
两用测头，特别适合测粉末状的覆层厚度 |
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F05
0～500μm,φ3mm
磁性测头，适于测量细小钢铁物体的薄覆层，如金属镀层，氧化层等
量程低端分辨宰很高(0.1μm) |
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F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性测头
量程低端分辨率很高(0.1μm |
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F3
0～3000μm,φ5mm
磁性测头
可用于较厚的覆层 |
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F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性测头，尤其适合于在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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F10
0～10mm,φ20mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等
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F20
0～20mm,φ40mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等 |
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F50
0～50mm,φ300mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层 |
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N02
0～200μm,φ2mm
非磁性测头，尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层 |
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N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性测头，适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度非磁性测头，尤其适合于在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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N10
0～10mm,φ50mm
非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等 |
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N20
0～20mm,φ70mm
非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等 |
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N100
0～100mm,200mm
非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等 |
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CN02
10～200μm,φ7mm
用于测量绝缘材料上的有色金属覆层，如覆铜板 |
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