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涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100 |
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![资料下载-涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100](../image/image1/pdf.jpg) |
已停产
德国Eleektrophysik公司MiniTest1100/2100/3100/4100系列涂镀层测厚仪已升级为MiniTest2500/4500。
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;
- 所有型号均可配所有探头
- 高精确度和重复性
- 储存读数文件 ,可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机
- 一点和两点校准
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![涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100](../image/epk/epk-minitest4100.jpg) |
型号 |
1100 |
2100 |
3100 |
4100 |
存储量 |
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数) |
1 |
1 |
10 |
99 |
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计,可设宽容度极限值) |
- |
1 |
10 |
99 |
可用各自的日期和时间标识特性的组数 |
- |
1 |
500 |
500 |
数据总量 |
1 |
10000 |
10000 |
10000 |
统计功能 |
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar |
- |
√ |
√ |
√ |
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
- |
- |
√ |
√ |
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar |
- |
- |
√ |
√ |
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
- |
- |
√ |
√ |
存储显示每一个应用行下的所有组内数据 |
- |
- |
- |
√ |
分组打印以上显示和存储的数据和统计值 |
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√ |
显示并打印测量值、打印的日期和时间 |
- |
√ |
√ |
√ |
其他 |
透过涂层进行校准(CTC) |
- |
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√ |
√ |
在粗糙表面上作平均零校准 |
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√ |
√ |
利用计算机进行基础校准 |
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补偿一个常数(Offset) |
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- |
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外设的读值传输存储功能 |
- |
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保护并锁定校准设置 |
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更换电池是存储数值 |
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设置极限值 |
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- |
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公英制转换 |
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√ |
连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别最大最小值 |
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- |
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连续测量模式中测量稳定后显示读数 |
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- |
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√ |
浮点和定点方式数据传送 |
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√ |
组内单值延迟显示 |
- |
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√ |
连续测量模式中显示最小值 |
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√ |
探头 |
量程 |
低端 分辨率 |
误差 |
最小曲率 半径(凸/凹) |
最小测量 区域直径 |
最小基 体厚度 |
F05 |
0-500μm |
0.1μm |
±(1%+0.7μm) |
0.75/5mm |
3mm |
0.1mm |
F3 |
0-3000μm |
0.2μm |
±(1%+1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
F10 |
0-10mm |
5μm |
±(1%+10μm) |
5/16mm |
20mm |
1mm |
F20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%+20μm) |
10/30mm |
40mm |
2mm |
F50 |
0-50mm |
10μm |
±(3%+50μm) |
50/200mm |
300mm |
2mm |
N02 |
0-200μm |
0.1μm |
±(1%+0.5μm) |
1/5mm |
2mm |
50μm |
N.08Cr |
0-80μm |
0.1μm |
±(1%+1μm) |
2.5mm |
2mm |
100μm |
N10 |
0-10mm |
10μm |
±(1%+25μm) |
25/100mm |
50mm |
50μm |
N20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%+50μm) |
25/100mm |
70mm |
50μm |
N100 |
0-100mm |
100μm |
±(1%+0.3mm) |
100mm/平面 |
200mm |
50μm |
FN1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%+1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F:0.5mm/N:50μm |
FN1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%+1μm) |
平面/6mm |
5mm |
F:0.5mm/N:50μm |
F2HT |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%+1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
注: |
所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
N08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。 |
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![](../image/epk/epk-minitest4100-probe1.jpg) |
FN1.6
0~1600μm,φ5mm
两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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![](../image/epk/epk-minitest4100-probe2.jpg) |
FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
两用测头,特别适合测粉末状的覆层厚度 |
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![](../image/epk/epk-minitest4100-probe3.jpg) |
F05
0~500μm,φ3mm
磁性测头,适于测量细小钢铁物体的薄覆层,如金属镀层,氧化层等
量程低端分辨宰很高(0.1μm) |
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![](../image/epk/epk-minitest4100-probe4.jpg) |
F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性测头
量程低端分辨率很高(0.1μm |
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![](../image/epk/epk-minitest4100-probe6.jpg) |
F3
0~3000μm,φ5mm
磁性测头
可用于较厚的覆层 |
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![](../image/epk/epk-minitest4100-probe16.jpg) |
F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性测头,尤其适合于在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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![](../image/epk/epk-minitest4100-probe9.jpg) |
F10
0~10mm,φ20mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等
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![](../image/epk/epk-minitest4100-probe10.jpg) |
F20
0~20mm,φ40mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等 |
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![](../image/epk/epk-minitest4100-probe11.jpg) |
F50
0~50mm,φ300mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层 |
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![](../image/epk/epk-minitest4100-probe12.jpg) |
N02
0~200μm,φ2mm
非磁性测头,尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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![](../image/epk/epk-minitest4100-probe13.jpg) |
N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层 |
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![](../image/epk/epk-minitest4100-probe14.jpg) |
N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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![](../image/epk/epk-minitest4100-probe16.jpg) |
N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度非磁性测头,尤其适合于在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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![](../image/epk/epk-minitest4100-probe18.jpg) |
N10
0~10mm,φ50mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等 |
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![](../image/epk/epk-minitest4100-probe19.jpg) |
N20
0~20mm,φ70mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等 |
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![](../image/epk/epk-minitest4100-probe20.jpg) |
N100
0~100mm,200mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等 |
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![](../image/epk/epk-minitest4100-probe21.jpg) |
CN02
10~200μm,φ7mm
用于测量绝缘材料上的有色金属覆层,如覆铜板 |
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