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涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100 资料下载-涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100
德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;
- 所有型号均可配所有探头
- 可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机
- 可使用一片或二片标准箔校准
涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100
功能
型号 1100 2100 3100 4100
MINITEST 存储的数据量
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数) 1 1 10 99
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计,可设宽容度极限值) - 1 10 99
可用各自的日期和时间标识特性的组数 - 1 500 500
数据总量 1 10000 10000 10000
MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar -
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar - -
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
存储显示每一个应用行下的所有组内数据 - - -
分组打印以上显示和存储的数据和统计值 - -
显示并打印测量值、打印的日期和时间 -
其他功能
透过涂层进行校准(CTC) -
在粗糙表面上作平均零校准
利用计算机进行基础校准
补偿一个常数(Offset) - -
外设的读值传输存储功能 -
保护并锁定校准设置
更换电池是存储数值
设置极限值 - -
公英制转换
连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别最大最小值 - -
连续测量模式中测量稳定后显示读数 - -
浮点和定点方式数据传送
组内单值延迟显示 -
连续测量模式中显示最小值

可选探头参数(探头图示)
所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能
探头 量程 低端
分辨率
误差 最小曲率
半径(凸/凹)
最小测量
区域直径
最小基
体厚度
探头尺寸
F05 0-500μm 0.1μm ±(1%+0.7μm) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm
F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x170mm
F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F10 0-10mm 5μm ±(1%+10μm) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm
F20 0-20mm 10μm ±(1%+10μm) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm
F50 0-50mm 10μm ±(3%+50μm) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm
N02 0-200μm 0.1μm ±(1%+0.5μm) 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm
N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%+1μm) 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm
N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm
N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x170mm
N10 0-10mm 10μm ±(1%+25μm) 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm
N20 0-20mm 10μm ±(1%+50μm) 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm
N100 0-100mm 100μm ±(1%+0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm
CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%+1μm) 平面 7mm 无限制 φ17x80mm
FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm F:0.5mm
N:50μm
φ15x62mm
FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面 30mm F:0.5mm
N:50μm
φ21x89mm
FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm F:0.5mm
N:50μm
φ15x62mm
注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。

探头图示
FN1.6
0~1600μm,φ5mm
两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)
FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
两用测头,特别适合测粉末状的覆层厚度
F05
0~500μm,φ3mm
磁性测头,适于测量细小钢铁物体的薄覆层,如金属镀层,氧化层等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)
F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性测头
量程低端分辨率很高(0.1μm
F3
0~3000μm,φ5mm
磁性测头
可用于较厚的覆层
F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性测头
尤其适合于在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
F10
0~10mm,φ20mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等
F20
0~20mm,φ40mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等
F50
0~50mm,φ300mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层
N02
0~200μm,φ2mm
非磁性测头,尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层
N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性测头,适于测量较薄的绝缘覆层
尤其适合在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N10
0~10mm,φ50mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等
N20
0~20mm,φ70mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等
N100
0~100mm,200mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等
CN02
10~200μm,φ7mm
用于测量绝缘材料上的有色金属覆层,如覆铜板