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涂层测厚仪MiniTest2500/4500 资料下载-涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100
德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest 2500/4500涂层测厚仪为MiniTest1100-4100系列的升级产品,为涂层测量领域的广泛任务提供了多种探头、不同的校准方法和评估选项。
MiniTest 2500/4500涂层测厚仪具有IP65防护等级, 人机工程学设计,高对比度显示屏和背光键盘,以及其他有用的功能。可存储多达200万个测量值,通过USB接口向计算机传输数据。MiniTest4500还提供蓝牙连接。
MiniTest1100-4100系列的探头都兼容于MiniTest2500/4500
-  钢上的非磁性涂层厚度范围可达0~50 mm
-  用于有色金属上的绝缘涂层厚度范围可达0~100 mm
-  耐高温探头,温度高达250°C和350°C
-  测量细管内壁的直角加长杆探头
-  所有探头都配有耐磨表面,确保使用寿命。
涂层测厚仪MiniTest2500-4500
功能
  MiniTest2500 MiniTest4500
   可存储的读数总数
   最大批组数量
   具有独立校准值的应用程序存储数量
   具有相同校准值的批组每个应用程序存储的批组数量
2000000
1
-
-
2000000
超过9500
99
99
   统计功能(每批组)    kvar, n, max., min.    kvar, n, max., min., CP, CPK
  校准 -    如果无基材使用,则通过涂层进行校准(CTC)
   补偿功能 -    用于从读数中加/减一个恒定值
   极限设置(用户自定义) -    超出限制时的光信号和声音信号报警
   测量单位    μm, mm, cm, mils, inch
   接口
   可升级接口
   USB
   USB和蓝牙 4.0
-    报警输出,脚踏开关触发,RS 232接口
   电源/每次更换电池的工作时间    3 x AA (LR06) 电池和USB/大约为150小时(不使用背光)
   规范和标准    DIN EN ISO1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882;ISO 19840;
   ASTM B244,B499, D7091, E376
   显示    53 x 46 mm,带背光
   操作温度/存储温度    10 ~60°C / –20 ~ 70°C
   尺寸/重量    53mm x 89mm x 36mm/ 320g(仪器包括电池),橡胶保护套90g
   防护等级    IP 65

可选探头
所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
探头 量程 低端
分辨率
误差 最小曲率
半径(凸/凹)
最小测量
区域直径
最小基
体厚度
F05 0-500μm 0.1μm ±(1%+0.7μm) 0.75/5mm 3mm 0.1mm
F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm
F10 0-10mm 5μm ±(1%+10μm) 5/16mm 20mm 1mm
F20 0-20mm 10μm ±(1%+20μm) 10/30mm 40mm 2mm
F50 0-50mm 10μm ±(3%+50μm) 50/200mm 300mm 2mm
N02 0-200μm 0.1μm ±(1%+0.5μm) 1/5mm 2mm 50μm
N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%+1μm) 2.5mm 2mm 100μm
N10 0-10mm 10μm ±(1%+25μm) 25/100mm 50mm 50μm
N20 0-20mm 10μm ±(1%+50μm) 25/100mm 70mm 50μm
N100 0-100mm 100μm ±(1%+0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm
FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm F:0.5mm/N:50μm
FN1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面/6mm 5mm F:0.5mm/N:50μm
F2HT 0-2000μm 0.2μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm
注: F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能
FN1.6/90为直角探头,用于管内测量
N.08Cr用于测量铜上镀铬。
F2HT为高温探头,有两款,允许在高达250°C或350° C表面温度的热表面上进行涂层厚度测量