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涂层测厚仪MiniTest7400 资料下载-涂层测厚仪MiniTest7400
德国EPK(Elektrophysik)公司全新的MiniTest7400高精度涂层测厚仪

特点
- 高精度涂层测厚仪
- 所有金属基材上的非破坏性测量
- 多种图形显示选项
- 菜单控制界面,更强的数据和配置管理
- 用于简易配置评估和数据设置报告的PC软件
- 测量厚度高达35mm的各种耐磨探头
- SIDSP®技术提升精确度和重现性

涂层测厚仪MiniTest7400

主机
技术参数MiniTest7400  
数据记忆组数 500
存储数据量 约250000个读数
统计值(每批组) 读数个数,最大值,最小值,平均值,标准偏差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置),过程能力指数CP和CPK,直方图,趋势图
校准程序符合国际标准和规范 ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准
校准模式 最多5点校准,使用者可调节补偿值
极限值监控 声音、视觉报警提示超过极限值
测量单位 μm,mm,cm,mils,inch,thou
操作/存放温度 -10℃~60℃/-20℃~70℃
数据接口 IrDA®1.0红外接口,可选USB和RS232适配器
电源 4节AA(LR06型)电池,或可选外接电源(90-240V~/48-62Hz)
规范和标准 160x160像素LCD带背光
显示 153mmx89mm32mm
尺寸  
重量 310g;(主机包括电池)

探头参数
标准探头 HD探头 量程 低端
分辨率
误差 重复性
(标准偏差)
最小曲率
半径
(凸/凹)
最小测量
区域直径(无测量标准)

最小测量
区域直径(有测量标准)

最小基
体厚度
F05 F05HD 0~0.5mm 0.02μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 1/7.5mm 14mm 5mm 0.3mm
F1.5 F1.5HD 0~1.5mm 0.05μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 1/7.5mm 14mm 5mm 0.3mm
F1.5-90   0~1.5mm 0.05μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 平面/5mm 10mm 5mm 0.3mm
  F2HD 0~2mm 0.1μm ±(1.5μm±0.75%) ±(0.8μm±0.5%) 1.5/10mm 14mm - 0.5mm
F5 F5HD 0~5mm 0.1μm ±(1.5μm±0.75%) ±(0.8μm±0.5%) 1.5/10mm 14mm 10mm 0.5mm
F15   0-15mm 1μm ±(5μm±0.75%) ±(2.5μm±0.5%) 5/25mm 25mm 25mm 1.0mm
F35   0-35mm 5μm ±(20μm±0.75%) ±(10μm±0.5%) 50/50mm 100mm - 1.5mm
N0.2 N0.2HD 0~0.7mm 0.02μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 1/7.5mm 14mm 5mm 40μm
N0.7 N0.7HD 0~0.7mm 0.05μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 1/7.5mm 14mm 5mm 40μm
N0.7-90   0~0.7mm 0.05μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 平面/5mm 10mm 5mm 40μm
N2.5 N2.5HD 0~2.5mm 0.1μm ±(1.5μm±0.75%) ±(0.8μm±0.5%) 1.5/10mm 14mm 10mm 40μm
N7   0~2.5mm 1μm ±(5μm±0.75%) ±(0.8μm±0.5%) 15/25mm 23mm 20mm 40μm
FN1.5
FN1.5HD F:0~1.5mm
N:0~0.7mm
0.05μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 1/7.5mm 14mm 5mm F:0.3mm
N:40μm
FN1.5-90   F:0~1.5mm
N:0~0.7mm
0.05μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 平面/5mm 10mm 5mm F:0.3mm
N:40μm
FN5 FN5HD F:0~5mm
N:0~2.5mm
0.1μm ±(1.5μm±0.75%) ±(0.8μm±0.5%) 1.5/10mm 14mm 10mm F:0.5mm
N:40μm
注:HD探头是针对于油漆或粉尘污染等恶劣环境设计的坚固探头,F2HD特别适用于粗糙表面。